印制板及其組件(PCB&PCBA)是電子產(chǎn)品的核心部件,PCB&PCBA的可靠性直接決定了電子產(chǎn)品的可靠性。為了保證和提高電子產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性,對(duì)失效進(jìn)行全面的理化分析,確認(rèn)失效的內(nèi)在機(jī)理,從而有針對(duì)性地提出改善措施。
電子元器件失效分析的目的是借助各種測(cè)試分析技術(shù)和分析程序確認(rèn)電子元器件的失效現(xiàn)象,分辨其失效模式和失效機(jī)理,確認(rèn)最終的失效原因,提出改進(jìn)設(shè)計(jì)和制造工藝的建議,防止失效的重復(fù)出現(xiàn),提高元器件可靠性。
集成電路復(fù)雜度與性能要求的持續(xù)攀升,疊加設(shè)計(jì)、制造、封裝及應(yīng)用環(huán)節(jié)的潛在風(fēng)險(xiǎn),導(dǎo)致短路、開(kāi)路、漏電、燒毀、參數(shù)漂移等關(guān)鍵失效模式頻發(fā)。這不僅造成昂貴的器件報(bào)廢與系統(tǒng)宕機(jī),更常引發(fā)設(shè)計(jì)方、代工廠、封測(cè)廠與終端用戶間的責(zé)任爭(zhēng)議,帶來(lái)重大經(jīng)濟(jì)損失與信譽(yù)風(fēng)險(xiǎn)。
高分子材料性能要求持續(xù)提升,而客戶對(duì)高要求產(chǎn)品及工藝的理解差異,導(dǎo)致斷裂、開(kāi)裂、腐蝕、變色等典型失效頻發(fā),常引發(fā)供應(yīng)商與用戶間的責(zé)任糾紛及重大經(jīng)濟(jì)損失。
金屬構(gòu)件服役環(huán)境日益苛刻,對(duì)材料性能和結(jié)構(gòu)可靠性提出更高要求。然而,設(shè)計(jì)缺陷、材料瑕疵、制造偏差或不當(dāng)使用等因素,極易引發(fā)疲勞斷裂、應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂、氫脆、蠕變、磨損、過(guò)載變形等典型失效。
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同樣的焊料,為何我的IMC層又失效?
發(fā)布時(shí)間: 2025-03-26 00:00
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某PCBA貼片后熱壓焊端子線輕拉即脫落,電容/電阻元件輕微施壓也會(huì)掉件。未焊接的同批次SET板存在上錫不良現(xiàn)象。現(xiàn)對(duì)3pcs失效樣品進(jìn)行一系列的測(cè)試分析,查找PCBA焊點(diǎn)焊接不良的根本原因。

1.外觀檢查

選取3處典型不良焊點(diǎn),進(jìn)行光學(xué)檢查,結(jié)果如圖1所示:多數(shù)不良焊點(diǎn)焊盤表面存在明顯潤(rùn)濕不良現(xiàn)象,焊盤顏色發(fā)黑異常,個(gè)別焊點(diǎn)脫開(kāi),脫開(kāi)界面焊盤側(cè)顏色發(fā)黑。

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2.表面分析

NG1:如圖2所示,焊盤潤(rùn)濕不良位置表面平整,局部存在焊錫及助焊劑殘留現(xiàn)象;潤(rùn)濕不良表面含有C、O、P、Sn、Ni元素,焊錫殘留位置含有C、O、Ag、Sn、Ni、Cu元素,助焊劑殘留位置含有C、O、Sn、Ni元素,均未見(jiàn)異常元素存在,排除污染對(duì)焊盤潤(rùn)濕不良的影響。

NG2、NG3:潤(rùn)濕不良位置形貌與NG1類似,成分含有C、O、P、Sn、Ni元素,未見(jiàn)異常元素存在。

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3.剖面分析

NG1:如圖3所示,切片結(jié)果顯示:不良焊盤切片后,焊錫殘留位置及未殘留位置,都發(fā)現(xiàn)不潤(rùn)濕現(xiàn)象;放大觀察后,不潤(rùn)濕位置存在明顯的連續(xù)性鎳腐蝕異常;Ni層P含量為6.2wt%。

NG2、NG3:切片結(jié)果與NG1結(jié)果類似,不潤(rùn)濕位置同樣發(fā)現(xiàn)連續(xù)性鎳腐蝕異常。

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4.分析與總結(jié)

綜上所述:PCBA焊點(diǎn)焊接不良的原因主要與連續(xù)性Ni層腐蝕有關(guān),Ni層腐蝕后,焊接過(guò)程中,Au層迅速熔融焊錫中,而作為焊接基底的Ni層無(wú)法與焊錫形成有效的冶金結(jié)合,即IMC層,最終導(dǎo)致焊點(diǎn)潤(rùn)濕不良的發(fā)生。

Ni層腐蝕主要是因?yàn)镻CB焊盤在浸金過(guò)程中,鎳層表面遭受過(guò)度氧化反應(yīng)。大體積的金原子不規(guī)則沉積,及其粗糙晶粒之稀松多孔,造成底下鎳層持續(xù)發(fā)生『化學(xué)電池效應(yīng)』(Galvanic effect),進(jìn)而使得鎳層不斷發(fā)生氧化,導(dǎo)致在金面下生成未能溶解的鎳銹持續(xù)累積而成。

總結(jié):PCBA焊點(diǎn)焊接不良的原因主要與PCB焊盤Ni層發(fā)生了連續(xù)性鎳腐蝕有關(guān),導(dǎo)致基底Ni層無(wú)法與焊錫生成有效的冶金結(jié)合,即IMC層,最終導(dǎo)致焊點(diǎn)潤(rùn)濕不良的發(fā)生。

5.建議

增加PCB物料來(lái)料質(zhì)量管控,如可焊性驗(yàn)證測(cè)試,避免異常物料流入生產(chǎn)。


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